高溫老化系統(tǒng)的結構特征
1.本設備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。
2.箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內膽采用不銹鋼板，箱門中間設大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。外型整體美觀大方。
3.保溫層為硬質聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細玻璃棉，具有強度高，保溫性有好等特點。本設備采用標準化多功能設計、有程序運行和恒定運行功能。主控制儀采用韓國進口觸摸屏溫濕度控制儀，液晶LCD顯示，具有通訊接口，大容量程序，操作簡單，用戶可自定義溫、濕度控制曲線進行溫濕度試驗。
4.升溫、降溫、加濕、去濕獨立，*的BTHC平衡調溫調濕方式。具有定時功能。
5.制冷系統(tǒng)采用全封閉進口壓縮機組，機械式單級制冷或復迭低溫回路系統(tǒng)，全自動控制與安全保護協(xié)調系統(tǒng)。
6.加熱采用不銹鋼翅片加熱管，加濕采用不銹鋼加濕管，加濕方式為蒸汽加濕，水位自動控制。

高溫老化系統(tǒng)設備是按照下列標準之一或其結合為依據(jù)而制造的:
GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件
GB10586-89 濕熱試驗箱技術條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備
GB/T5170.5-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設備
GB2423.22-87 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法
GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2423.3-91電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
GB2423.4-91電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
GB2424.1-89 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則

高溫老化系統(tǒng)的用途
該設備主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。
該試驗設備主要用于對產品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

東莞艾思荔 李 
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